통계적 공정 관리

이 장은 아직 집필 전이다. 절 구성만 잡혀 있다.

관리도의 기초와 이상 패턴

계수형 관리도(불량률·결함수·결함 밀도)

계량형 관리도(x̄–R, x̄–s)

개별값 관리도와 이동 범위

공정 능력 지수

OC 곡선과 평균 런길이

Cusum과 EWMA

다변량 관리

자기상관 데이터의 모델 기반 SPC

프로파일 모니터링

합격 판정 샘플링