6.1부터 6.5까지는 세는 일이었다. 미시상태를 세어 엔트로피를 얻고, 그 도함수로 온도와
화학퍼텐셜을 정의하고, 분배함수에서 이상 기체와 양자 기체의 성질을 끌어냈다. 이 장은 그 결과를
들고 바깥으로 나간다 — 에너지를 옮기고, 기계를 돌리고, 물질이 어느 상(相)으로 있을지를
정하는 문제로. 통계역학이 “공학”이 되는 장이다.
질문은 세 가지다.
에너지는 어떻게 옮겨 다니는가. 같은 1 J이라도 열로 오면 엔트로피를 싣고 오고, 일로 오면
맨몸으로 온다. 이 구분 하나가 열기관의 효율 상한과 냉동의 비용을 전부 정한다 — 1·2·3절.
반응은 어느 쪽으로, 얼마나 가는가. 온도와 압력이 고정된 실험실에서 자연이 최소화하는 양은
깁스 자유에너지 G이고, 그 최소 조건이 화학퍼텐셜의 등식 하나로 접힌다. 거기서 질량 작용의
법칙과 증기압 곡선이 나온다 — 4·5·6절.
물질은 언제 상을 바꾸는가. 판데르발스 기체의 등온선이 왜 꼬이는지, 질서 변수가 왜
연속적으로 자라거나 불연속으로 뛰는지, 두 성분을 섞으면 왜 어떤 조성에서는 섞이지 않는지 —
7·8·9·10절. 마지막 11절은 평형을 떠나 수송으로 간다. 기체 분자가 서로 부딪히는 거리
하나가 확산·점성·열전도를 전부 정한다.
반도체 쪽에서 이 장이 어디로 흘러가는지 미리 적어 둔다. 진성 캐리어 농도 nenh=ni2는
질량 작용의 법칙 그 자체이고(5절 → 6.7), CVD와 에피택시의 반응 평형은 같은 식을 분압으로
쓴 것이다(5절 → 18.11·18.13). 초크랄스키 성장에서 도펀트가 액체 쪽에 남는 편석과 도펀트의
고용도 한계는 액상–고상 평형의 결론이고(10절 → 18.3·18.7), SiGe·InGaN 같은 합금이 섞이거나
갈라지는 것은 혼합 자유에너지의 모양이 정한다(9절 → 8.4·8.7). 강유전체 HfO₂의 이력 곡선과
부성 커패시턴스는 란다우 자유에너지의 두 우물이고(8절 → 15부), 초임계 CO₂ 건조가 패턴 붕괴를
피하는 이유는 임계점을 돌아가면 액체–기체 계면이 없기 때문이다(7절). 진공 공정의 압력 영역을
가르는 크누센 수는 평균 자유 행로에서 나온다(11절 → 18.5·18.10). 그리고 열은 모든 칩의
숙명이다 — 트랜지스터는 일을 받아 열을 내놓는 엔트로피 발생기이고, 그 열을 300 K 방으로
버리는 데 드는 비용과 4 K로 식히는 데 드는 비용의 차이가 1·3절에 있다.
이 장은 기호 사정이 특히 나쁘다. 열역학 자체가 글자를 많이 쓰는 데다, 두 기준 교재가
온도와 엔트로피의 단위부터 다르게 잡는다. Kittel·Kroemer는 온도를 에너지 단위로
(τ=kBT), 엔트로피를 무차원으로(σ=S/kB) 쓰고, Reif는 켈빈 T와 J/K 단위의 S를
쓴다. 이 백과의 6부는 Kittel·Kroemer 표기를 따른다 — 볼츠만 상수가 식에서 사라져 구조가
드러나기 때문이다. 숫자를 말할 때는 켈빈으로 말하고, 환산은 τ=kBT, 300 K에서
τ=25.9 meV다.
계의 에너지 U가 바뀌는 통로는 둘이다. 하나는 열, 하나는 일. 둘의 차이는 에너지의
양이 아니라 함께 오는 것에 있다.
열은 엔트로피를 실어 나르는 에너지 전달이고, 일은 엔트로피 없이 오는 에너지 전달이다.
이것이 정의다. 온도 τ인 저장체에서 열 đQ가 가역적으로 흘러 들어오면 엔트로피
đQ/τ가 같이 들어온다.
đQ=τdσ
반면 피스톤이 밀리거나 전류가 저항 없이 흐르거나 입자가 화학퍼텐셜 차이로 옮겨 오는 일은
엔트로피를 하나도 싣고 오지 않는다. 가장 흔한 것이 압력 일 đW=−pdV이고, 입자를
dN개 들여오는 화학 일 μdN도 같은 부류다. 그래서 열역학 제1법칙은 에너지 보존에
“에너지가 두 종류의 통로로 온다”는 분류를 얹은 것이다.
U는 상태함수다 — 계가 어느 상태에 있는지만 정해지면 값이 정해지고, 어떤 경로로 거기
왔는지는 상관없다. 그러나 Q와 W는 경로의 함수다. 이상 기체를 (τ,V1)에서
(τ,V2)로 옮기는 두 경로를 보자.
가역 등온 팽창. 피스톤을 천천히 밀어 저장체와 열평형을 유지한다. U는 τ만의
함수라 ΔU=0이고, 기체가 한 일은 ∫pdV=Nτln(V2/V1)이므로 받은 열은
Q=Nτln(V2/V1), 받은 일은 W=−Q다. 6.5.5가역 등온 팽창과 엔트로피
자유 팽창. 칸막이를 빼서 진공으로 퍼지게 한다. 일도 열도 없다 — Q=W=0.
시작과 끝이 같은데 Q가 다르다. 그러니 "dQ"라고 쓰면 마치 어떤 함수 Q의 미분인 것처럼
읽혀 틀린다. 경로 의존 미소량이라는 뜻으로 đ를 쓴다.
1.1.4선적분과 경로 독립성에서 본 것과 같은 구분이다 — 선적분이 경로에 안 걸리려면 피적분
벡터장이 어떤 퍼텐셜의 기울기여야 했다. đQ=dU+pdV는 (U,V) 공간의 벡터장
(1,p)의 선적분이고, p가 U에 걸리는 한 이것은 기울기장이 아니다.
그런데 두 경로 모두 엔트로피 변화는 같다 — Δσ=Nln(V2/V1). 가역 경로에서는 이
엔트로피가 열과 함께 들어왔고, 자유 팽창에서는 계 안에서 만들어졌다. 결과는 같다.
σ는 상태함수이기 때문이다.
열기관은 고온 저장체(τh)에서 열 Qh를 받아 그 일부를 일 W로 내놓고, 나머지 Ql을
저온 저장체(τl)에 버린다. 한 바퀴 돌아 제자리로 오는 순환 장치다. 에너지 장부는
간단하다.
W=Qh−Ql
엔트로피 장부가 효율을 정한다. 기관은 Qh와 함께 엔트로피 Qh/τh를 받는다. 순환이
끝나면 기관 자체의 상태가 제자리로 돌아오므로 기관 안에는 엔트로피가 쌓일 수 없다. 받은
엔트로피를 전부 버려야 하고, 안에서 만들어진 것까지 있으면 그것도 버려야 한다. 버리는 통로는
Ql뿐이고 그것이 싣고 나가는 엔트로피는 Ql/τl이다.
τlQl≥τhQh⟹Ql≥τhτlQh
따라서
W=Qh−Ql≤Qh(1−τhτl),η≡QhW≤ηC=τhτh−τl
이것이 카르노 효율이다. 등호는 기관 안에서 엔트로피가 하나도 생기지 않을 때 — 모든 단계가
가역일 때 — 성립한다. 작동 물질이 무엇이든, 기구가 어떻든 상관없다. 저장체 온도 둘만 안다.
그림 6.6-1. 열기관(왼쪽)과 냉동기(오른쪽)의 에너지·엔트로피 장부. 굵은 화살표가 에너지, 옆의 회색 글씨가 그 에너지에 실린 엔트로피다. 일 W에는 엔트로피가 붙어 있지 않다. 순환 장치 안에는 엔트로피가 쌓일 수 없으므로 열기관은 받은 엔트로피 Q_h/τ_h 이상을 Q_l/τ_l 로 버려야 하고, 냉동기는 저온에서 퍼낸 엔트로피 Q_l/τ_l 이상을 Q_h/τ_h 로 버려야 한다. 두 부등식이 각각 카르노 효율과 카르노 성능계수다.직접 작도
τ–σ 평면에서 이것은 가로 Δσ, 세로 τh−τl인 직사각형이다.
직사각형의 넓이가 한 바퀴의 일 W=(τh−τl)Δσ이고, 위쪽 변 아래의 넓이가
Qh=τhΔσ다. 효율은 두 넓이의 비, 곧 두 높이의 비(τh−τl)/τh로 눈에 읽힌다.
그림 6.6-2. 같은 카르노 순환을 두 평면에서 본 그림. 왼쪽 τ–σ 평면에서는 직사각형이고, 넓이가 한 바퀴의 일, 위쪽 변 아래의 전체 넓이가 받은 열 Q_h다. 효율은 두 높이의 비로 바로 읽힌다. 오른쪽은 같은 순환을 단원자 이상 기체로 돌렸을 때의 p–V 평면 — 등온선 pV = Nτ 두 개와 단열선 pV^(5/3) = 일정 두 개가 둘러싼 넓이가 같은 일이다. 단열선이 등온선보다 가파른 것은 팽창하면서 온도까지 떨어지기 때문이다.직접 작도
p–V 평면에서는 같은 순환이 곡선 네 개로 둘러싸인 도형이 된다. 단원자 이상 기체의
등온선은 pV=Nτ, 단열선은 6.5.1고전 이상 기체와 분배함수의 엔트로피
σ=N[ln(nQV/N)+5/2]를 일정하게 두면 나온다 — nQ∝τ3/2이므로
τ3/2V= 일정, 곧
τV2/3=일정,pV5/3=일정
지수 5/3은 단원자 기체의 값이고 일반 기체에서는 Cp/CV다. 단열선이 등온선보다 가파른
것은 팽창하면서 온도까지 떨어져 압력이 두 번 깎이기 때문이다.
열전 발전기. 온도차가 걸린 반도체에서 제벡 효과로 직접 전기를 뽑는 열기관이다.
움직이는 부품이 없는 대신 효율이 재료의 성능 지수ZT=S2σelT/κ에 걸린다
(7.12.7). 상한은 η=ηC⋅1+ZT+τl/τh1+ZT−1이고,
ZT≈1인 Bi₂Te₃라면 카르노의 20% 남짓이다. ZT→∞에서만 ηC로 간다.
태양전지도 열기관이다. 태양(5,800 K)과 셀(300 K) 사이의 카르노 효율은 95%다. 그러나
단일 접합 셀의 이론 한계는 34% 근처인데(쇼클리–퀘이서, 17부), 그 차이의 대부분은 빛이
엔트로피를 싣고 오기 때문이다 — 광자 기체는 열복사이고(6.3.6), 밴드갭 하나로는 온도
5,800 K의 스펙트럼을 가역적으로 받을 수 없다.
칩의 폐열은 쓸 데가 없다. 접합 온도 350 K, 방 300 K면 ηC=14%이고 실제로는 그
몇 분의 일이다. 데이터센터 폐열을 난방에 쓰는 것은 되지만 전기로 되돌리는 것은 안 되는
이유가 이 숫자다.
냉동기는 화살표를 전부 뒤집은 열기관이다. 일 W를 받아 저온 저장체에서 열 Ql을 퍼내고,
Qh=Ql+W를 고온 저장체에 버린다. 엔트로피 장부도 뒤집힌다 — 저온에서 Ql/τl을
퍼냈으니 고온에 그 이상을 버려야 한다.
τhQh≥τlQl⟹W=Qh−Ql≥Qlτlτh−τl
냉동기의 성능은 “낸 일 대비 퍼낸 열”인 성능계수γ로 잰다.
γ≡WQl≤γC=τh−τlτl
효율과 달리 γC는 1을 넘을 수 있다. 300 K 방에서 280 K 냉장고 안을 식히면 γC=14
— 일 1 J로 열 14 J을 옮긴다. 모순이 아니다. 열을 만드는 것이 아니라 옮기는 것이고,
옮기는 데 드는 최소 일은 엔트로피 운임 Ql(1/τl−1/τh)τh뿐이다.
같은 장치를 뒤집어 “고온 쪽에 버리는 열”을 목적으로 보면 열펌프이고, 그 성능은
Qh/W≤τh/(τh−τl)=1+γC다. 전기 히터(Qh/W=1)보다 언제나 낫다.
그림 6.6-3. 300 K 방에서 온도 τ_l 의 물체로부터 열 1 J을 퍼내는 데 드는 최소 일 1/γ_C = (300 K − τ_l)/τ_l. 양 대수 눈금이라 직선에 가깝고, τ_l 이 낮아질수록 비용이 1/τ_l 로 발산한다. 액체 질소 온도에서는 3 J, 액체 헬륨 온도에서는 70 J, 희석 냉동기의 10 mK에서는 3만 J이다. 실제 장치는 이 값의 수십 배를 쓴다. 절대 영도에 가까워질수록 냉각이 무한히 비싸지는 것이 제3법칙의 공학적 얼굴이다.직접 작도
열전 소자에 전류 I를 흘리면 접합에서 열 ΠI가 흡수된다(펠티에 계수 Π=ST, 7.12.7).
그러나 같은 소자 안에서 줄 열 21I2R이 되돌아오고 열전도 κthΔT가
새어 들어온다.
Ql=ΠI−21I2R−κthΔT
Ql이 0이 되는 최대 온도차가 ΔTmax=21ZTl2, Z=S2/(ρκth)
이다. ZT≈1인 Bi₂Te₃로 단일 단은 70 K 안팎이고, 그 온도차에서 성능계수는 카르노의
한참 아래다. 그래도 레이저 다이오드의 파장 안정화, 적외선 검출기와 CCD 냉각처럼 작고
조용하고 정밀한 냉각은 이것이 맡는다. 반도체 자체가 냉동기가 되는 유일한 경우다.
기체를 다공성 마개(또는 밸브)에 밀어 넣어 압력 p1에서 p2<p1으로 조절 팽창시킨다.
단열이고, 정상 흐름이다. 기체 한 덩이(V1)를 마개 안으로 밀어 넣는 데 든 일은 p1V1,
반대편에서 V2로 밀려 나오며 한 일은 p2V2이므로
U1+p1V1=U2+p2V2,H1=H2
엔탈피가 보존된다. 1절의 “흐르는 기체는 H를 들고 다닌다”가 여기서 쓰인다.
이상 기체는 H=U+pV=U(τ)+Nτ가 τ만의 함수라 온도가 변하지 않는다. 실제
기체는 변한다. 판데르발스 기체(7절)의 저밀도 근사로 계산하면
H≈25Nτ+Np(b−τ2a)
(단원자 기준) 이고, dH=0을 풀면 압력을 조금 낮출 때의 온도 변화가
(∂p∂τ)H≈CpN(τ2a−b)
가 된다. 부호가 온도에 걸린다.τ<τinv=2a/b이면 괄호가 양수라 압력을
낮출 때 온도가 떨어지고, 그 위에서는 오히려 오른다.2a/b가 역전 온도이고, 판데르발스
임계 온도 τc=8a/27b(7절)로 쓰면 τinv=427τc다.
그림 6.6-4. 판데르발스 기체의 줄–톰슨 역전 곡선을 환산 변수로 그린 것. 곡선 안쪽에서는 조절 팽창(압력을 낮추는 방향)에서 기체가 식고, 바깥쪽에서는 데워진다. 압력이 0으로 가는 극한에서 역전 온도는 임계 온도의 27/4 배다. 상온·1기압의 질소는 곡선 깊숙이 안쪽에 있어 식지만, 임계 온도가 낮은 수소와 헬륨은 상온에서 τ_r 이 각각 9와 58이라 그림 오른쪽 바깥에 놓인다 — 미리 식혀 놓지 않으면 조절 팽창으로 데워진다.직접 작도
이것이 린데 공정의 원리다. 압축한 질소를 역류 열교환기에 통과시켜 밸브에서 팽창시키면
조금 식고, 그 식은 기체가 다음에 들어오는 기체를 미리 식힌다. 누적되면 액화한다. 수소와
헬륨은 상온이 역전 온도 위라 이 방법이 통하지 않는다 — 액체 질소로 먼저 205 K 아래로,
액체 수소로 45 K 아래로 내려놓아야 한다. 헬륨 액화가 1908년에야 된 이유다.
6.3.3헬름홀츠 자유에너지에서 헬름홀츠 자유에너지 F=U−τσ는 온도와 부피가 고정된
계가 평형에서 최소화하는 양이었다. 그런데 실험실의 비커, 반응로, 웨이퍼는 대개 온도와 압력이
고정돼 있다 — 부피는 저 알아서 바뀐다. 그 조건에 맞는 퍼텐셜이 깁스 자유에너지다.
G≡U−τσ+pV=F+pV=H−τσ
미분하면 열역학 항등식 dU=τdσ−pdV+μdN에서
dG=−σdτ+Vdp+μdN
이다. G의 자연 변수는 (τ,p,N) — 실험실이 고정하는 바로 그 변수들이다.
왜 최소화되는가. 계가 온도 τ·압력 p인 저장체와 접해 있다고 하자. 계와 저장체를 합친
전체는 고립계이므로 전체 엔트로피가 늘어나는 방향으로만 간다. 계가 열 đQ를 받고 부피
dV만큼 저장체를 밀면 저장체의 엔트로피 변화는 −đQ/τ=−(dU+pdV)/τ이고,
전체는
dσtot=dσ−τdU+pdV=−τdG≥0
전체 엔트로피의 증가는 계의 G의 감소다. 저장체를 명시하지 않고 계만 보면서 “G가
줄어든다”고 말할 수 있게 된 것이다. 헬름홀츠 F도 같은 논리로 (τ,V) 고정에서 나왔고,
네 퍼텐셜은 어느 변수를 고정하느냐만 다르다.
퍼텐셜
자연 변수
고정 조건
평형에서
U
σ,V,N
고립
σ 최대
H=U+pV
σ,p,N
단열 정압
H 최소
F=U−τσ
τ,V,N
등온 정적
F 최소
G=U−τσ+pV
τ,p,N
등온 정압
G 최소
6.2.8열역학 항등식과 맥스웰 관계의 맥스웰 관계가 dG에서도 하나 나온다 — G의 2계 도함수는 순서에
무관하므로 (∂σ/∂p)τ=−(∂V/∂τ)p. 3절 끝에서 등엔트로피
팽창이 언제나 식는다고 한 근거가 이것이다.
Aj는 화학종, νj는 화학량론 계수로 생성물이 양, 반응물이 음이다.
H2+Cl2→2HCl이면 νH2=−1, νCl2=−1,
νHCl=+2. 반응이 조금 진행하면 각 종의 개수는 계수에 비례해 바뀐다 —
dNj=νjdλ. 이 λ가 반응 진행도다. 온도·압력이 고정돼 있으니
dG=j∑μjdNj=(j∑νjμj)dλ
평형은 G의 최소, 곧
j∑νjμj=0
이것이 화학 평형의 조건 전부다. 열역학은 여기서 끝나고, 나머지(5절)는 μj를 농도로
푸는 통계역학이다. 평형이 아니면 방향도 읽힌다 — ∑νjμj<0이면 dλ>0
쪽으로, 곧 정반응으로 간다. 생성물의 화학퍼텐셜 합이 반응물보다 낮으면 그쪽으로 흐른다.
6.4.3의 확산 평형에서 입자가 μ가 높은 데서 낮은 데로 흐르는 것과 같은 문장이다.
그림 6.6-5. 이성질화 반응 A ⇌ B 의 깁스 자유에너지를 반응 진행도(B의 분율 x)에 대해 그린 것. 점선은 혼합 엔트로피를 무시한 값 — 직선이라 최소가 언제나 양 끝(전부 A 또는 전부 B)에 온다. 실선은 혼합 엔트로피 τ[x ln x + (1−x) ln(1−x)]를 더한 값 — 양 끝에서 기울기가 무한대라 최소가 반드시 안쪽에 온다. 표준 자유에너지 차 Δμ°가 클수록 최소가 한쪽으로 쏠리지만 끝에 닿지는 않는다. 반응이 '완전히' 가지 않는 이유는 언제나 엔트로피다.직접 작도
∑νjμj를 표준 상태에서 계산한 것이 표에 실리는 표준 반응 자유에너지ΔG∘다. 반도체 공정에서 이 표를 읽는 가장 중요한 자리는 실리콘 위에 무엇을
올릴 수 있는가다. 산화물 MOx를 Si 위에 올렸을 때
Si+MOx⟶SiO2+M(또는규화물)
이 자발적이면 계면에 SiO₂가 자라고 금속이 석출된다. 판정은 산소 1 몰당 생성 자유에너지를
나란히 놓는 것이다(엘링엄의 방식). 298 K 표준값의 어림이다 — 문헌마다 수십 kJ 차이가 있고
공정 온도에서는 값이 옮겨 가므로 순서만 읽는다.
산화물
ΔGf∘ / O₂ 1 몰 (kJ)
Si 위에서
Ta₂O₅
약 −760
SiO₂(−856)보다 덜 안정 — Si가 환원해 SiO₂ 계면층이 생긴다
TiO₂
약 −890
경계선. 조건에 따라 규화물·SiO₂가 생긴다
SiO₂
약 −856
기준
ZrO₂
약 −1,040
안정
Al₂O₃
약 −1,055
안정. 반대로 Al 금속은 SiO₂를 환원한다
HfO₂
약 −1,090
안정 — 하이-k 게이트 절연막으로 HfO₂가 선택된 열역학적 이유
Y₂O₃ · La₂O₃
약 −1,200
안정. 다만 흡습성
읽는 법은 하나다 — SiO₂보다 아래에 있는 산화물만 Si와 접촉해 살아남는다. Ta₂O₅는 1990년대
DRAM 커패시터에 쓰였지만 Si 게이트 위에서는 계면 SiO₂를 피할 수 없었고, HfO₂가 45 nm 노드
이후 게이트 절연막이 된 데는 이 표가 있다(허버드–슐롬 기준). 같은 표를 거꾸로 읽으면 Al 배선이
SiO₂를 조금씩 환원하는 이유, Ti가 자연 산화막을 뚫고 실리사이드를 만드는 이유(18.21)도
나온다.
4절의 평형 조건 ∑νjμj=0은 μj가 무엇인지 모르면 쓸 수 없다. 묽은 기체나
용액이라면 6.5.1고전 이상 기체와 분배함수의 이상 기체 화학퍼텐셜이 답이다 — 내부 자유도(진동·회전·
전자 상태)까지 넣어
μj=τlncjnj,cj≡nQ,jZint,j=nQ,je−Fint,j/τ
nQ,j는 그 화학종의 양자 농도, Zint,j는 내부 분배함수다. 6.3.1볼츠만 인자와 분배함수cj는 농도와 무관하고 온도에만 걸린다. 평형 조건에 대입하면
j∑νjlnnj=j∑νjlncj⟹j∏njνj=j∏cjνj≡K(τ)
이것이 질량 작용의 법칙이다. 반응물·생성물 농도를 화학량론 계수 거듭제곱으로 곱하면
온도만의 함수K(τ)가 된다. 농도들 각각은 초기 조건에 따라 얼마든지 달라지지만 이
곱은 변하지 않는다.
H2+Cl2⇌2HCl이면 nHCl2/(nH2nCl2)=K.
고체나 순수 액체가 반응에 끼면 그 화학퍼텐셜은 농도와 무관한 상수이므로 K 안으로 흡수된다
— 식에서 사라진다. 기체에서는 nj=pj/τ로 분압을 쓰는 것이 관례이고, 그러면
∏pjνj=Kp(τ)다.
둘째 항에서 온도에 가장 세게 걸리는 부분은 각 종의 바닥 에너지ε0,j다. 그것만
따로 빼면
K(τ)∝τ23∑νje−Δε0/τ,Δε0=j∑νjε0,j
Δε0은 반응 한 번에 드는 에너지 — 생성물의 바닥 에너지 합에서 반응물의 것을
뺀 값이다. 거듭제곱 앞인자는 느리게 변하므로 lnK를 1/τ에 대해 그리면 거의 직선이고,
기울기가 −Δε0이다(판트호프). 흡열 반응(Δε0>0)은 온도를
올리면 K가 커져 정반응 쪽으로, 발열 반응은 반대로 간다 — 르 샤틀리에의 원리가 지수 하나에
들어 있다.
① 수소의 이온화.H⇌e−+p+. 양성자와 수소 원자의 nQ는
질량이 거의 같아 약분되고 전자의 것만 남는다.
nHnenp=nQ,ee−I/τ,I=13.6eV
사하 방정식이다. 별의 대기와 플라즈마의 이온화도가 여기서 나오고, 팹의 플라즈마(18.5)는
평형이 아니라 이 식이 그대로 맞지는 않지만 지수 인자의 구조는 같다.
② 반도체의 전자–정공. 가전자대의 전자가 전도대로 올라가는 것을 반응으로 쓰면
0⇌e+h이고, 왼쪽은 “아무것도 없음”이라 화학퍼텐셜 0이다.
nenh=nQ,enQ,he−Eg/τ≡ni2
진성 캐리어 농도의 제곱이 곧 이 반응의 K(τ)다. 도핑을 아무리 해도 nenh의 곱은
ni2로 고정되고, 한쪽을 1017으로 올리면 다른 쪽이 103으로 내려간다 — 소자 장들이
“질량 작용의 법칙”이라 부르는 것이 정확히 이 식이다. 6.7.3에서 유효질량과 유효 상태밀도
Nc, Nv로 다시 유도한다.
그림 6.6-6. Si·Ge·GaAs의 진성 캐리어 농도를 1000/T 에 대해 반대수 눈금으로 그린 것. 거의 직선이고, 기울기가 E_g/2 다 — 반응 에너지 E_g 의 절반인 것은 n_i 가 곱 n_e n_h = K 의 제곱근이기 때문이다. 밴드갭이 클수록 기울기가 가파르고 절편이 낮다. 같은 온도에서 Ge 는 Si 보다 세 자릿수, GaAs 는 네 자릿수 아래에 있다. 상온의 Si 는 10^10 cm⁻³ 안팎으로, 도핑 농도 10^15~10^20 에 견주면 없는 것이나 같다.직접 작도
③ CVD와 에피택시의 반응 평형. 실레인 열분해 SiH4⇌Si(s)+2H2는
고체 Si가 식에서 사라져
pSiH4pH22=Kp(τ)
이다. 염화물 에피택시 SiCl4+2H2⇌Si(s)+4HCl은
pHCl4/(pSiCl4pH22)=Kp이고, 이 식에서 두 가지가
읽힌다. 수소를 과잉으로 넣으면 정반응(증착) 쪽으로 밀리고, HCl이 쌓이거나 SiCl₄ 분압을
올리면 역반응(식각) 으로 넘어간다 — 같은 장비가 조건에 따라 성장로도 되고 식각기도 되는
이유다. 온도를 올리면 Kp가 어느 쪽으로 움직이는지는 Δε0의 부호가 정한다.
실제 성장 속도는 평형이 아니라 수송(11절)과 표면 반응 속도가 정하지만, 평형이 허락하는
경계는 이 식이 긋는다(18.11.1 · 18.13.1).
액체와 그 증기가 한 용기에 있다. 둘은 열 접촉(온도 같음), 역학적 접촉(압력 같음), 그리고
입자 교환(증발·응축)을 한다. 6.4.3확산 평형의 확산 평형 조건이 그대로 적용된다 —
입자가 오가는 두 계는 화학퍼텐셜이 같아야 한다.
μl(p,τ)=μg(p,τ)
μl과 μg는 서로 다른 함수이므로 이 등식은 (p,τ) 평면에서 곡선 하나를 정한다.
그 곡선이 증기압 곡선이고, 곡선 위에서만 두 상이 공존한다. 곡선 아래(p가 작으면)에서는
μg<μl이라 전부 증발하고, 위에서는 전부 응축한다. 화학퍼텐셜이 낮은 쪽이 이긴다.
액체–기체에 두 근사를 넣는다. 기체의 부피가 액체보다 훨씬 크고(vg≫vl), 기체는
이상 기체(vg=τ/p)라 하면
dτdp=τ2Lp⟹dτdlnp=τ2L⟹p=p0e−L/τ
(L을 상수로 두었을 때). 증기압은 −1/τ의 지수함수다. lnp를 1/τ에 대해 그리면
직선이고 기울기가 −L — 5절의 판트호프 그림과 같은 모양이다. 우연이 아니다. 증발은
A(l)⇌A(g)라는 반응이고, 증기압은 그 평형 상수이며, 잠열이
반응 에너지다.
그림 6.6-7. 왼쪽은 단일 성분의 p–τ 상태도 모식도. 세 공존 곡선이 삼중점에서 만나고, 액체–기체 곡선만 임계점에서 끝난다 — 거기서 두 상의 밀도 차가 0이 되어 구별이 사라진다. 고체–액체 경계는 부피 변화가 작아 거의 수직이고, 물과 실리콘처럼 얼면서 부피가 느는 물질은 기울기가 음수다. 오른쪽은 물의 증기압을 ln p 대 1/T 로 그린 것. 점은 실측값, 직선은 100 °C의 잠열 하나로 그은 클라우지우스–클라페이롱 직선이다. 100 K 넘는 범위에서 직선에서 벗어나는 것은 잠열이 온도에 따라 조금 변하기 때문이다.직접 작도
숫자로 확인. 물의 몰 증발 잠열은 100 °C에서 40.7 kJ/mol이다. 입자 하나당 잠열을 이 장의
단위로 옮기면 L/kB=40,700/8.314=4,890 K. 373 K, 1기압에서
세 상이 있으면 공존 곡선이 셋이고, 셋이 만나는 점이 삼중점 — 세 화학퍼텐셜이 모두
같은 유일한 (p,τ)다. 물은 273.16 K, 611 Pa이고 이 점이 켈빈의 정의점이었다.
액체–기체 곡선은 임계점에서 끝난다. 온도를 올릴수록 액체는 팽창하고 기체는 압축되어
둘의 밀도가 가까워지다가 임계점에서 같아진다 — vg−vl→0, sg−sl→0, 잠열
0. 그 위에서는 액체와 기체의 구별이 없다(7절). 고체–액체 곡선은 끝나지 않는다 — 고체는 격자
대칭이 있고 액체는 없어 둘 사이에 “연속적으로 넘어가는 길”이 없다.
고체–액체 경계의 기울기는 Lfus/[τ(vl−vs)]다. vl−vs가 작아 매우 가파르고,
부호는 녹을 때 부피가 느는지 주는지가 정한다. 물은 얼음이 물보다 성겨 vl<vs, 기울기가
음수 — 압력을 가하면 녹는점이 내려간다. 실리콘도 같다. 고체 Si의 밀도 2.33 g/cm³, 액체
2.57 g/cm³로 얼면서 10% 부푼다. 초크랄스키 성장에서 도가니 안 용융 Si의 대류와 응고 수축이
아니라 팽창을 다뤄야 하는 이유(18.3)이고, 급랭한 Si 방울이 깨지는 이유다.
증착 소스의 온도. 열 증착(18.10)은 증기압이 대략 1 Pa이 되는 온도가 작동점이다.
Al은 1,200 °C 근처, Au는 1,400 °C, Ti는 1,700 °C, W는 3,000 °C를 넘어 저항 가열이 안 되고
전자빔으로 간다. 증발 속도 자체는 11절의 헤르츠–크누센 식이 증기압으로 준다.
III–V의 해리. GaAs를 가열하면 As의 증기압이 Ga보다 훨씬 높아 As가 먼저 날아가고 표면이
Ga 방울로 덮인다. MBE·MOCVD가 성장 온도에서 As 과압을 걸어 두는 이유이고, 그 과압의
최소값이 GaAs 위의 As 평형 증기압이다(18.13).
진공 챔버의 물. 20 °C에서 물의 증기압은 2.3 kPa — 대기의 2%다. 챔버를 열 때마다 벽에
붙은 물이 이만한 압력으로 밀고 나오려 하고, 탈착이 느려 펌핑의 마지막 자릿수를 물이
정한다. 150~200 °C 베이크아웃은 탈착 속도의 e−Edes/τ 인자를 키우는 것이다.
CO₂. 삼중점이 5.1기압이라 1기압에서는 액체가 없다 — 드라이아이스는 승화한다. CO₂ 눈
세정이 액체 없이 입자를 떼는 것이 이 성질이고, 임계점(31 °C, 7.4 MPa)이 상온 근처라 초임계
건조가 가능한 것도 이 물질이다(7절).
p(V)를 온도별로 그리면 높은 온도에서는 이상 기체처럼 단조롭게 내려오지만, 어느 온도 아래에서는
가운데 꼬임이 생긴다 — 부피를 줄이는데 압력이 내려가는 구간이다. ∂p/∂V>0은
역학적으로 불안정하다(조금 압축하면 압력이 떨어져 더 압축된다). 그 구간이 사라지는 경계, 곧
꼬임이 변곡점 하나로 오그라드는 온도가 임계 온도다.
(∂V∂p)τ=0,(∂V2∂2p)τ=0
두 식과 상태방정식을 연립하면
Vc=3Nb,τc=27b8a,pc=27b2a
세 값의 조합 pcVc/Nτc=3/8=0.375는 a, b가 사라진 순수한 수다. 실제 기체는
0.23~0.31이라 판데르발스가 정량 모형이 아님을 여기서 알 수 있다. 그러나 이 세 값으로
변수를 나누면
물질 상수가 모두 사라진다. 대응 상태의 법칙 — 어떤 기체든 임계값으로 잰 좌표에서는 같은
곡선 위에 있다. 이것은 판데르발스보다 일반적인 사실이고, 3절의 역전 곡선을 환산 변수로
그릴 수 있었던 근거다.
그림 6.6-8. 환산 변수로 그린 판데르발스 등온선. τ_r > 1 에서는 단조롭고, τ_r = 1 (임계 등온선)은 변곡점 하나를 가지며, 그 아래에서는 부피를 줄이는데 압력이 내려가는 꼬임이 생긴다. 회색 점선(스피노달)은 꼬임의 극대·극소를 이은 선으로, 그 안쪽은 역학적으로 불안정하다. 회색 실선(공존 곡선)은 맥스웰 작도로 얻은 액체·기체의 부피를 이은 선이고, 두 곡선 사이가 준안정 영역이다. 강조한 τ_r = 0.9 등온선의 수평선이 맥스웰의 등면적 선 — 위아래 두 고리의 넓이가 같은 높이에 그은 것이다.직접 작도
꼬인 등온선은 실제로 관측되지 않는다. 실제 기체는 어느 압력 p∗에서 액체 부피 Vl에서
기체 부피 Vg까지 수평선으로 건너뛴다 — 두 상이 공존하며 비율만 바뀌는 구간이다. 그
높이는 어디인가. 등온에서 dG=Vdp이므로 꼬인 등온선을 따라Vl에서 Vg까지 가면
Gg−Gl=∫lgVdp
공존하려면 Gg=Gl(화학퍼텐셜이 같음, 6절)이어야 하니 이 적분이 0이어야 한다. p–V
그림에서 이것은 수평선 위쪽 고리의 넓이와 아래쪽 고리의 넓이가 같다는 조건이다.
맥스웰의 등면적 작도.
준안정 가지는 스피노달(∂p/∂V=0)까지 이어진다. 그 안쪽은 아예 불안정해
저절로 갈라지지만, 공존선과 스피노달 사이에서는 액체가 끓는점 위에서 액체로 머물 수 있다 —
핵생성이 필요하기 때문이다. 기포 하나가 생기려면 표면 에너지를 먼저 치러야 하고, 임계
크기를 넘는 기포가 우연히 생길 때까지 기다려야 한다(8.6.1 · 9.8.2). 전자레인지의 물이
돌연 끓어 넘치는 것, 비등석을 넣는 것, 과냉각된 물이 충격에 한꺼번에 어는 것이 전부 이
구간이다.
τc 바로 아래에서 액체와 기체의 밀도 차는 어떻게 사라지는가. 임계점 둘레에서 p(V)를
1.5.3함수의 급수 전개와 근사의 정확도으로 전개하면 1계·2계 항이 0이라 3계에서 시작하고, 그 결과
nl−ng∝(τc−τ)1/2이다 — 제곱근으로 닫힌다. 같은 계산으로 등온 압축률
−V1∂V/∂p는 τc에서 발산한다. 밀도 요동이 무한히 커진다는
뜻이고, 그 요동이 빛을 산란해 임계점의 유체는 뿌옇게 흐려진다(임계 유백광). 이 1/2과 발산은
8절의 란다우 이론이 주는 값이고, 실제 지수는 0.32 근처다.
임계점 위에서는 액체와 기체의 구별이 없다. 압력을 올리면 밀도가 연속적으로 올라갈 뿐이다.
이것이 반도체 세정에 쓰인다.
상전이를 하나의 틀로 보는 방법이 있다. 저온상에는 있고 고온상에는 없는 무엇을 찾아 그것을
변수로 삼는 것이다. 강자성체의 자화, 강유전체의 분극, 액체–기체의 밀도 차 nl−ng,
초전도체의 에너지 갭, 합금의 규칙도. 이 변수를 질서 변수ξ라 부른다. 고온에서 ξ=0,
전이 온도 아래에서 ξ=0이다.
란다우의 가정은 두 가지다. 전이 온도 근처에서 자유에너지를 ξ의 거듭제곱 급수로 쓸 수
있고, 그 급수가 계의 대칭을 존중한다는 것. ξ→−ξ 대칭이 있는 계(자화의 위아래는
동등하다)는 홀수 항이 없다.
FL(ξ;τ)=g0(τ)+21g2(τ)ξ2+41g4(τ)ξ4+⋯
FL은 “질서 변수를 ξ로 묶어 둔 채 나머지 자유도를 다 더한” 자유에너지다. 실제 평형은
ξ에 대해 FL을 최소화한 것이다. 통계역학이 하는 일은 g2, g4가 무엇인지 계산하는
것이지만, 란다우는 계산 없이 그 부호만으로 무슨 일이 일어나는지 다 말한다.
τ0 위에서는 ξ=0이 유일한 최소다. τ0을 지나는 순간 ξ=0은 극대가 되고 양쪽에
새 최소 두 개가 0에서부터 자라난다. 질서 변수는 τ0−τ로 연속적으로 켜진다 —
2차 상전이다.
그림 6.6-9. 왼쪽은 란다우 자유에너지 F_L − g_0 를 질서 변수 ξ에 대해 온도별로 그린 것. τ_0 위에서는 우물이 하나이고, τ_0 에서 바닥이 평평해지며(ξ⁴만 남는다), 아래에서는 가운데가 봉우리로 바뀌고 양쪽에 우물 두 개가 0에서부터 벌어진다. 오른쪽은 그 우물의 위치 ξ(τ) — 실선은 g_4 > 0 인 2차 전이로 (τ_0 − τ)^(1/2) 로 연속해서 자라고, 점선은 g_4 < 0 인 1차 전이로 τ_c 에서 유한한 값으로 뛴다. 1차 전이의 가는 점선은 준안정 가지로, τ_c 를 지나서도 τ* 까지 이력을 남긴다.직접 작도
무엇이 연속이고 무엇이 불연속인가. 최소에서의 자유에너지는
FLmin=g0−4g4α2(τ0−τ)2(τ<τ0)
이고, 엔트로피 σ=−∂F/∂τ는 τ0에서 연속이다(제곱의 도함수는
τ0에서 0). 잠열이 없다. 그러나 열용량 C=τ∂σ/∂τ는
ΔC=2g4α2τ0
만큼 불연속이다 — 저온 쪽이 더 크다. 6절 끝의 분류로 돌아가면, G의 1계 도함수(엔트로피·
부피)는 연속이고 2계 도함수(열용량·압축률)가 뛴다. 그래서 2차다.
g4<0이면 ξ4항이 자유에너지를 끝없이 낮추므로 급수를 ξ6까지 써야 한다
(g6>0).
FL=g0+21α(τ−τ0)ξ2−41∣g4∣ξ4+61g6ξ6
이제 τ>τ0인데도 ξ=0의 우물 바깥에 다른 우물이 생길 수 있다. 세 우물의
깊이가 같아지는 온도가 전이 온도 τc이고, 그 값과 그때의 ξ는
τc=τ0+16αg63g42,ξc2=4g63∣g4∣
τc에서 질서 변수가 0에서 ξc로 뛴다. 엔트로피도 뛰고, 잠열 L=τcΔσ가
있다. 1차 상전이다. 그리고 τc를 지나도 ξ=0 우물은 τ0까지 국소 최소로
남고, ξ=0 우물은 τ∗=τ0+g42/4αg6까지 남는다. 온도를 내릴 때와
올릴 때 전이가 다른 곳에서 일어난다 — 이력(hysteresis)이고, 7절의 과열·과냉과 같은
준안정성이다.
란다우 이론은 ξ를 계 전체에서 하나의 값으로 둔다. 요동을 무시한 평균장이다. 전이 온도
바로 근처에서는 요동의 상관 길이가 발산하므로 이 가정이 깨지고, 지수가 틀린다 —
ξ∝(τ0−τ)β에서 란다우는 β=1/2, 3차원 실험은 0.32~0.37이다.
그러나 전이 온도에서 조금만 떨어지면 란다우가 잘 맞고, 대칭에서 오는 결론(어느 항이
허용되는가, 전이가 몇 차인가)은 요동을 넣어도 살아남는다. 초전도의 긴즈부르크–란다우 이론은
ξ를 복소 함수로 바꾼 같은 틀이고(7.14), 그 이론이 자속 양자화까지 맞힌다.
τ<τ0(g2<0)에서 E=0의 우물이 ±Ps 둘이고, 장을 걸면 우물이 기울어
한쪽이 낮아진다. 반대쪽 우물에 있던 분극은 그 우물이 사라질 때까지 버틴다 — 그 장이
항전계Ec=2∣g2∣3/2/(33g41/2)이고, 이것이 P–E 이력 곡선의 폭이다.
FeRAM과 FeFET(15부)은 두 우물이 비트 0과 1이고, 읽고 쓰는 것은 우물을 기울이는 일이다.
HfO₂ 박막이 강유전성을 보인다는 2011년의 발견이 이 우물을 CMOS 공정 안으로 들여왔다.
이력 곡선의 가운데, ∣P∣<∣g2∣/3g4 구간은 ∂2FL/∂P2<0이다.
커패시턴스를 CFE=(∂2FL/∂P2)−1로 읽으면 음수 — 부성 커패시턴스다.
단독으로는 불안정해 관측되지 않지만, 보통의 유전체 커패시터와 직렬로 두면 전체는 안정하면서
게이트 전압이 채널에 증폭되어 전달되는 효과가 생긴다. 서브스레숄드 기울기 60 mV/dec의
볼츠만 한계(13.6)를 넘겠다는 NC-FET의 아이디어가 이 우물의 봉우리 위에 있다.
첫 항은 위로 볼록한 포물선, 둘째 항은 아래로 볼록하며 양 끝에서 무한히 가파른 곡선이다.
고온에서는 둘째 항이 이겨 fM이 전체에서 아래로 볼록하고, 온도를 내리면 가운데가 먼저
위로 볼록해진다. 그 경계는 2계 도함수로 잡힌다.
∂x2∂2fM=−2w+x(1−x)τ=0⟹τsp(x)=2wx(1−x)
이 곡선이 스피노달이고, 그 꼭대기 x=1/2, τM=w/2가 혼합의 임계 온도다.
τ>τM이면 어떤 조성에서도 섞이고, 아래에서는 어떤 조성 범위에서 갈라진다.
그림 6.6-10. 왼쪽은 w > 0 인 정규 용액의 혼합 자유에너지를 온도별로 그린 것. τ_M = w/2 위에서는 전체가 아래로 볼록해 어느 조성이든 한 상으로 있는 것이 최소이고, 아래에서는 가운데가 위로 볼록해져 두 조성 x_α, x_β 로 갈라진 두 상이 더 낮다 — 공통 접선(여기서는 대칭이라 수평선)이 그 두 점을 잇는다. 접선이 닿는 점이 바이노달, 변곡점(작은 원)이 스피노달이다. 오른쪽은 온도별 바이노달·스피노달을 τ–x 평면에 옮긴 혼합 간극 — 두 곡선 사이가 준안정(핵생성 필요), 스피노달 안쪽이 불안정(스피노달 분해)이다.직접 작도
τ<τM에서 조성 x0의 계가 조성 xα인 상과 xβ인 상으로 갈라지면
전체 자유에너지는 두 점을 잇는 현(弦) 위의 값이 된다(상의 비율은 지렛대 법칙, 10절).
현이 곡선 아래로 내려가면 갈라지는 것이 이득이고, 가장 낮은 현은 곡선에 양쪽에서 접하는
선이다 — 공통 접선. 접점 xα, xβ가 두 상의 평형 조성이고, 그 사이의 어떤
x0도 같은 두 조성으로 갈라진다. 이 점들을 온도별로 이은 것이 바이노달(공존 곡선)이다.
바이노달과 스피노달 사이는 준안정이다 — 갈라지면 더 낮지만, 조성이 조금 흔들리는 것으로는
자유에너지가 오히려 올라가서(f′′>0) 핵생성이 있어야 갈라진다. 스피노달 안쪽은
f′′<0이라 아무리 작은 요동도 자라난다 — 핵 없이 온 부피에서 동시에 갈라지는
스피노달 분해(8.7.7)다. 7절의 판데르발스에서 공존 곡선과 스피노달의 관계가 정확히 같았다.
액체–기체는 밀도가, 여기서는 조성이 갈라지는 것뿐이다.
SiGe. Si와 Ge는 격자 상수가 4% 다르지만 결합 성격이 같아 w가 작고, 고체에서 전 조성
섞인다(거의 이상 용액). 그래서 조성으로 밴드갭과 격자 상수를 연속 조절할 수 있고, HBT의
베이스와 pMOS의 압축 변형 소스·드레인이 가능하다(12.7 · 13부).
InGaN. In–N과 Ga–N의 결합 길이 차가 커 w>0이 크고, 성장 온도에서 혼합 간극 안에
들어간다. In 조성 20~30%를 넘는 녹색 LED가 어려운 이유의 하나가 In의 상분리·응집이고,
그 응집이 캐리어를 국재화해 오히려 발광을 돕는다는 것이 이 재료의 역설이다(17부).
InGaAsP·InAlAs. 4원계도 같은 논리로 혼합 간극이 있고, 장파장 레이저의 조성 설계는
격자 정합선과 혼합 간극을 동시에 피해 가는 일이다.
w>0인 계를 낮은 온도로 내리면 바이노달의 두 팔이 양 끝으로 붙는다. x≪1에서
ln[(1−x)/x]≈−lnx이므로 바이노달 식은
xsol(τ)≈e−w/τ
고용도 한계다. 순수한 A 결정이 B를 받아들이는 최대 분율이고, 아레니우스 꼴로 온도에
걸린다 — 온도를 올리면 더 녹는다. 그 이상 넣으면 B가 풍부한 제2상으로 석출된다.
실리콘의 도펀트가 이렇다. 녹는점 근처의 최대 고용도는 As·P가 1021cm−3 안팎,
B가 5×1020, Sb가 5×1019, Ga·Al은 1019대다(원자 밀도 5×1022의
2%부터 0.02%까지). 이온 주입으로 그 위를 넘길 수는 있지만 어닐링 중에 넘친 만큼이 석출물이나
비활성 클러스터로 빠지고, 전기적으로 활성인 농도는 고용도 아래에 머문다. 컨택 저항을
낮추는 데 필요한 1020대 활성 농도가 어려운 이유의 절반이 이 절이다(18.7.2 · 18.21). 많은
도펀트가 녹는점 바로 아래에서 고용도가 오히려 줄어드는(역행 고용도) 것은 액상이 함께
있을 때 도펀트가 액체 쪽을 더 좋아하기 때문이고, 그 이야기가 다음이다.
이제 A와 B가 액체에서도 고체에서도 섞이는 경우 — 실리콘 위의 게르마늄, 잉곳 안의 도펀트가
이렇다. 평형 조건은 성분마다 하나씩이다.
μAs(xs,τ)=μAl(xl,τ),μBs(xs,τ)=μBl(xl,τ)
두 상이 모두 이상 용액이면 μiphase=μipure, phase+τlnxi이고,
순수한 성분 i의 액체와 고체의 화학퍼텐셜 차는 6절의 논리로 Li(1−τ/τi)다
(τi는 i의 녹는점, Li는 융해 잠열). 대입하면 성분마다
xilxis=exp[τLi−τiLi]≡Ki(τ)
τ<τi(그 성분의 녹는점 아래)면 지수가 양수라 고체가 그 성분을 더 많이 갖는다.
녹는점이 높은 성분은 고체로, 낮은 성분은 액체로 몰린다. xA+xB=1을 두 상에 각각 쓰면
온도마다 액체 조성과 고체 조성이 하나씩 정해진다.
xBl=KB−KA1−KA,xBs=KBxBl
온도를 바꿔 가며 그리면 액상선(xl)과 고상선(xs)이 렌즈 모양으로 벌어진다.
그림 6.6-11. Si–Ge 계의 액상선·고상선을 두 성분의 녹는점과 융해 잠열만으로(이상 용액 모형) 계산한 것. 실측 상태도와 수 % 안에서 맞는다. 위쪽 곡선(액상선) 위에서는 전부 액체, 아래쪽 곡선(고상선) 아래에서는 전부 고체이고, 렌즈 안에서는 둘이 공존한다. 1500 K의 연결선을 보면 전체 조성 x_0 = 40% Ge 인 계는 26% Ge 의 고체와 53% Ge 의 액체로 갈라지며, 고체의 비율은 지렛대 법칙 (x_l − x_0)/(x_l − x_s) 로 정해진다. 고체와 액체의 조성비 k = x_s/x_l 이 편석 계수다 — 녹는점이 낮은 Ge 는 액체 쪽에 남는다.직접 작도
렌즈 안, 온도 τ에서 전체 조성 x0인 계는 고상선 위의 xs와 액상선 위의 xl로
갈라진다. 물질 보존 x0=fsxs+(1−fs)xl에서
fs=xl−xsxl−x0
지렛대 법칙이다 — x0을 받침점으로 두면 고체의 양은 반대편 팔 길이에 비례한다.
9절의 공통 접선에서 “현 위의 값”이라 한 것이 같은 식이다(8.4.7에서 일반 상태도로 확장한다).
고체와 액체 조성의 비 k0=xs/xl이 평형 편석 계수(분배 계수)다. 도펀트처럼 B가
묽으면 k0=KB이고, 호스트의 녹는점 τA에서
k0≈exp[τALB(1−τBτA)]
B의 녹는점이 A보다 낮으면(τB<τA) 지수가 음수, k0<1 — 불순물은 액체에
남으려 한다. 실리콘의 실제 값은 이상 용액 식이 잘 맞지 않아 실측을 쓴다.
도펀트
B
P
As
Sb
Ga
Al
k0 (Si)
0.8
0.35
0.3
0.023
0.008
0.002
전부 1보다 작다. 초크랄스키 성장에서 잉곳을 끌어올리는 동안 도펀트는 남은 융액에 농축되고,
잉곳의 저항률이 머리에서 꼬리로 갈수록 내려간다 — 셰일 식
Cs=k0C0(1−f)k0−1(f는 굳은 분율)이 그 곡선이고, k0이 작을수록 가파르다
(18.3.2). 같은 성질을 거꾸로 쓰면 정제다. 녹인 띠를 잉곳을 따라 옮기면 불순물이 띠와
함께 끝으로 밀려 나가고, 여러 번 지나가면 k0n으로 준다 — 부유대 정제(FZ)다.
k0이 1에 가까운 B는 이 방법으로 잘 안 빠지고, 그래서 FZ 실리콘의 B는 원료 단계에서
잡는다.
고체에서 w>0이 커 거의 안 섞이고 액체에서는 섞이는 계라면 렌즈가 못 닫힌다. 두 액상선이
양쪽 녹는점에서 내려오다 공정점에서 만나고, 그 아래는 두 고체의 혼합물이다. 공정 조성의
액체는 두 순수 성분 어느 쪽보다 훨씬 낮은 온도까지 액체로 남는다.
그림 6.6-12. 고체에서 서로 거의 녹지 않는 두 성분의 상태도 모식도 (Au–Si 계를 본떴다). 두 액상선이 각각의 녹는점 1064 °C·1414 °C 에서 내려와 공정점 363 °C, 19 at% Si 에서 만난다. 공정점 아래는 Au 결정과 Si 결정의 혼합물이고, 위쪽 두 영역은 액체와 한쪽 고체가 공존한다. 액체가 두 성분 모두를 받아들이면서 혼합 엔트로피로 자유에너지를 낮추는 반면 고체는 그러지 못하기 때문에, 액체 영역이 양쪽 녹는점보다 훨씬 아래까지 내려온다.직접 작도
이 낮은 녹는점을 반도체는 곳곳에서 쓰고, 곳곳에서 피한다.
Au–Si 공정(363 °C). 다이를 리드프레임에 붙이는 공정 접합의 원조이고, 지금도 파워 소자에
쓴다. 반대로 Au 배선이 Si에 닿으면 이 온도에서 녹아 파고든다.
Al–Si 공정(577 °C). Al 배선의 소결(sintering)이 450 °C인 것은 이 아래여야 하기 때문이다.
그러나 450 °C에서도 Al은 Si를 0.5 at% 가까이 녹이고, 그 Si는 컨택 밑에서 파여 나와
Al이 접합을 뚫는다(스파이킹). Al에 Si를 1% 미리 넣거나 TiN 장벽을 두는 것이 대책이다(18.21).
Sn–Pb(183 °C)·Sn–Ag–Cu(217 °C). 솔더의 리플로 온도가 공정점 위 20~30 °C인 이유이고,
무연 전환으로 34 °C 오른 것이 패키징의 열 예산을 바꿨다(18.25).
이 장의 앞 열 절은 평형이었다. 마지막 절은 평형에서 조금 벗어난 계에서 무엇이 흐르는지를
묻는다. 농도가 고르지 않으면 입자가 흐르고(확산), 속도가 고르지 않으면 운동량이 흐르며(점성),
온도가 고르지 않으면 에너지가 흐른다(열전도). 셋을 한 번에 다루는 가장 단순한 모형이
기체 운동론이고, 그 모든 것의 열쇠가 숫자 하나다.
지름 d인 분자가 속력 cˉ로 날면, 시간 t 동안 그 분자의 중심이 다른 분자 중심의 d 안에
들어오는 부피는 πd2cˉt(단면 πd2의 관)다. 그 관 안의 분자 수 nπd2cˉt가
충돌 횟수이므로 충돌 사이의 평균 거리는
ℓ=2nπd21
2는 상대방도 움직인다는 보정이다(Kittel·Kroemer는 어림이라 이 인자를 뺀다). 이상 기체
n=p/τ를 넣으면
ℓ=2πd2pτ
압력에 반비례한다. 질소(d≈3.7 Å), 300 K에서 ℓ≈6.6mm/p[Pa]
— 1기압에서 65 nm, 1 Pa에서 6.6 mm, 10−4 Pa에서 66 m. 충돌 사이의 평균 시간은
tc=ℓ/cˉ이고, cˉ=8τ/πM은 6.5.3맥스웰 속도 분포의 맥스웰 분포에서
나온 평균 속력이다(질소 300 K에서 475 m/s).
그림 6.6-13. 질소 분자의 300 K 평균 자유 행로를 압력에 대해 양 대수 눈금으로 그린 것 — 기울기 −1의 직선이다. 오른쪽 축은 10 cm 챔버에서의 크누센 수 ℓ/L. Kn < 0.01 에서는 분자가 서로만 보는 연속체(점성 흐름·확산), Kn > 1 에서는 벽만 보는 분자 흐름(직진, 충돌 없음)이고 그 사이가 천이 영역이다. 주요 공정의 작동 압력을 표시했다. 대기압 CVD 는 연속체, 저압 CVD 와 식각은 천이 영역, 스퍼터링은 경계, 증착과 MBE 는 분자 흐름이다 — 같은 챔버에서 압력 하나가 물리를 바꾼다.직접 작도
이다. 질소 300 K, 10−4 Pa에서 Φ≈3×1014cm−2s−1. 표면의
원자 자리가 1015cm−2쯤이니 모든 분자가 붙는다면 3초에 한 층이다.
10−8 Pa로 내리면 열 시간. 표면을 깨끗하게 유지한 채 실험하려면 초고진공이어야 하는
이유이고(9부), MBE가 10−9 Pa대에서 성장하는 이유다. 같은 식을 거꾸로 쓰면 6절의
증기압에서 증발 속도가 나온다 — 평형에서 표면을 떠나는 분자 수는 돌아오는 수와 같아야
하므로 Φevap=pvap/2πMτ(헤르츠–크누센, 18.10).
z 방향으로 어떤 양 X(입자 하나당)의 밀도 nX가 기울어져 있다. 높이 z의 면을 위에서
아래로 지나는 분자는 평균적으로 ℓ 위에서 마지막 충돌을 했으니 그곳의 X를 싣고 오고,
아래에서 위로 지나는 분자는 ℓ 아래의 값을 싣고 온다. 각 방향의 분자 흐름이 61ncˉ
(여섯 방향 중 하나)이므로 알짜 흐름은
JX=61ncˉ[X(z−ℓ)−X(z+ℓ)]≈−31cˉℓdzd(nX)
X에 무엇을 넣느냐만 다르다.
흐르는 것
X
흐름
계수
입자
1
J=−Ddzdn
D=31cˉℓ
운동량 Mvx
Mvx
Πxz=−ηvdzdvx
ηv=31nMcˉℓ=31ρcˉℓ
에너지
c^Vτ
JU=−κdzdτ
κ=31nc^Vcˉℓ
c^V는 분자 하나의 열용량(단원자면 3/2, 이 장의 단위로 무차원)이다. 세 계수가 같은
인자 cˉℓ을 공유하고, 정밀한 계산(볼츠만 방정식, 7.12.2)은 앞의 숫자만 바꾼다.
질소 1기압에서 D≈0.1cm2/s, ηv≈1.2×10−5 Pa·s로
실측(0.2, 1.8×10−5)과 두 배 안에서 맞는다. 세 계수의 비는 재료 상수가 사라진
순수한 수다 — ηv/(ρD)=1, κM/(ηvc^V)=1. 실측은 각각 1.3, 2.5
근처이고 어긋남은 속력 분포를 무시한 값이다.
하전 입자의 기체에 전기장 E를 걸면 충돌 사이에 qE/M으로 가속되다 충돌로 방향을 잃으므로
평균 표류 속도는 vd=qEtc/M이다. 이동도μ~=vd/E=qtc/M, 전도도
σel=nqμ~=nq2tc/M — 드루데 모형(7.6.1)이다. 이 전도도와 위의 확산
계수는 같은 tc를 공유하므로 서로 걸려 있어야 한다. 평형에서 그 관계를 얻는 가장 짧은
길은 이 장의 방식대로 화학퍼텐셜을 쓰는 것이다. 퍼텐셜 φ(z) 안에서 평형이면
전기화학퍼텐셜이 일정하고(6.4.2), 농도는 n∝e−qφ/τ다. 표류와 확산이
상쇄되어야 하므로
아인슈타인 관계다. 확산 계수와 이동도의 비는 τ/q — 300 K에서 25.9 mV. 소자 장 전체를
따라다니는 식이고, 6.7.6에서 페르미–디랙 통계로 일반화하며, 11.2에서 드리프트–확산 방정식의
두 항을 묶는다. 이 절에서 유도한 방식이 말해 주는 것은 하나다 — 확산도 표류도 같은 충돌이
정하는 것이라 둘은 따로 놀 수 없다.
여기서 한 계산은 “마지막 충돌 지점의 값을 싣고 온다”는 어림이다. 정확히 하려면 위상 공간의
분포함수 f(r,v,t)가 흐름과 충돌로 어떻게 변하는지를 쓰는
볼츠만 수송 방정식이 필요하고, 그 완화시간 근사가 정확히 위의 31cˉℓ을
tc와 속력 분포의 평균으로 다시 준다(7.12). 포논 기체에 같은 식을 쓰면 고체의
열전도도 κ=31Cvℓ이고(7.5.7), 전자 기체에 쓰면 비데만–프란츠 법칙이다
(7.6.8). 확산 방정식 1.7.6열·확산 방정식의 D가 무엇으로 정해지는지, 이 절이 그 답의
첫 줄이다.
마지막으로 목적지를 적어 둔다.
캐리어 통계.nenh=ni2는 질량 작용의 법칙이고(5절), 아인슈타인 관계는 확산과
표류가 같은 충돌에서 나온다는 사실이다(11절). 6.7이 이 둘을 페르미–디랙 통계로 다시 쓴다.
결정 성장과 확산 공정. 편석 계수와 셰일 식(10절 → 18.3), 도펀트 고용도(10절 → 18.7),
평형 공공 농도(9절 → 8.1·8.3).
박막 증착. 증기압과 증발 속도(6·11절 → 18.10), CVD·에피택시의 반응 평형(5절 →
18.11·18.13), 크누센 수와 압력 영역(11절 → 18.5).
열과 전력. 칩은 엔트로피 발생기이고(1절), 그 열을 버리는 비용은 온도차가 정하며(2절),
극저온에서는 냉각이 연산보다 비싸다(3절 → 21부).
다음 장. 6.7은 이 장의 4·5·11절을 반도체 하나에 집중해서 다시 쓴다 — 상태 밀도,
캐리어 농도, 이온화, 페르미 준위, 아인슈타인 관계.
이 장의 뼈대는 결국 두 문장이다. 에너지는 두 통로로 옮겨 다니고, 열이라는 통로에만 엔트로피가
실려 있다 — 그것이 기관의 한계다. 온도와 압력이 고정되면 자연은 G를 최소화하고, 그
최소 조건은 언제나 화학퍼텐셜의 등식이다 — 그것이 반응과 상변태의 전부다. 나머지는 μ를
농도로 풀어 쓴 것(질량 작용), 두 상에서 같게 놓은 것(공존 곡선), 조성에 대해 그린 것(혼합
간극), 질서 변수로 전개한 것(란다우)이다.