7.4에서 결정의 원자 진동을 조화 근사로 풀어 포논 — 진동수 ω, 파수벡터 K,
편극 p 로 이름 붙은 양자화된 격자파 — 를 얻었다. 이 장은 그 포논이 열적으로 무엇을 하는가를
묻는다. 질문은 셋이다.
결정은 열을 얼마나 담는가 — 격자 열용량 CV(T) (1~5절).
결정은 데우면 왜 늘어나는가 — 열팽창 (6절).
결정은 열을 얼마나 잘 나르는가 — 열전도도 κ(T) (7~9절).
첫째 질문은 조화 근사 안에서 답이 나온다. 조화 결정은 서로 독립인 진동자 3N 개의 모음이고,
각 진동자에 플랑크 분포를 얹어 더하면 끝이다 — 남는 일은 “진동수 ω 근처에 모드가 몇
개 있는가”, 곧 상태밀도D(ω) 를 세는 것뿐이다. 디바이 모형과 아인슈타인 모형은
D(ω) 를 두 가지 극단으로 단순화한 것이다.
둘째·셋째 질문은 조화 근사 안에서는 답이 없다. 조화 진동자의 평균 위치는 온도와 무관하고,
조화 결정의 격자파들은 서로 부딪히지 않아 열저항이 0이다. 열팽창과 유한한 열전도도는 둘 다
퍼텐셜의 비조화 항이 만든다. 그중에서도 열저항의 출처는 미묘하다 — 포논끼리 부딪히는
것만으로는 부족하고, 부딪히면서 결정 운동량이 역격자 벡터만큼 새는 움클랍 과정이 있어야
한다.
반도체에서 이 장이 어디로 가는지 미리 적어 둔다.
열용량 — 급속 열처리(RTA)에서 웨이퍼가 얼마나 빨리 데워지는가, 소자의 열 시정수, TCAD의
열 방정식에 들어가는 부피 열용량 ρcp. 실리콘의 상온 열용량이 뒬롱–프티값의 80%인 이유가
디바이 온도 645 K 다 (4절).
열팽창 — 웨이퍼 휨, 박막 응력, 패키징의 열팽창 계수 불일치가 전부 6절의 비조화 계수 g 다.
열전도도 — 트랜지스터의 자기 발열. FinFET·GAA 채널의 폭이 포논 평균자유행로보다
작아지면 채널의 열전도도가 벌크의 몇 분의 일로 떨어지고, SOI의 매몰 산화막은 열의 벽이 된다
(7·9절). 다이아몬드가 구리보다 열을 다섯 배 잘 나르는 이유가 디바이 온도 2230 K 다 (8절).
디바이 온도 자체 — 전자–포논 산란의 온도 의존, 곧 이동도 μ∝T−3/2 의 출처가
이 장의 포논 수 ∝T 다 (7.12, 11부).
표기는 Kittel 5장을 따른다. 포논의 파수벡터는 K (대문자), 볼츠만 상수는 kB,
디바이 온도는 θ 다. 열전도도만은 예외로 둔다 — 아래 주의 참고.
격자 열용량은 격자 진동이 담는 에너지 U 의 온도 도함수다. 고체는 압력을 걸어도 부피가
거의 변하지 않아 CV 와 Cp 의 차이가 작으므로(수 % — 6절 끝에서 그 차이가 비조화성에서
온다는 것을 본다), 이 장은 부피를 고정한 CV=(∂U/∂T)V 를 다룬다.
19세기 말까지 알려진 사실은 둘이었다. 상온 근처의 단순 고체는 원자 1몰당 열용량이 거의
3R≈25J/(mol⋅K) 로 같다(뒬롱–프티). 그런데 온도를 내리면 모든 고체의
열용량이 0으로 떨어지고, 절연체에서는 그 접근이 T3 에 비례한다. 금속은 여기에 전자
기여 γT 가 얹혀 C=γT+AT3 이 되는데, 그 첫 항은 7.6(7.6.4전자 기체의 열용량)의
몫이고 이 장은 둘째 항을 설명한다.
고전 물리는 첫 사실만 설명한다. 원자 N 개가 3차원에서 진동하면 자유도가 3N 이고 진동자
하나당 kBT (운동 에너지 21kBT + 퍼텐셜 에너지 21kBT)이므로
U=3NkBT, C=3NkB — 등분배 정리(6.3.5등분배 정리와 고체의 열용량)다. 온도가 어디든 상수다.
저온의 감소는 양자 효과이고, 아인슈타인(1907)이 이것을 양자론의 두 번째 성공 사례로 만들었다
(첫째는 흑체복사).
같은 식이 6.4(6.4.8보스-아인슈타인 분포)에서는 보스–아인슈타인 분포
1/(e(ϵ−μ)/kBT−1) 로 나왔다. 포논은 그 식에서 μ=0 을 넣은 특별한 경우다.
이유는 포논의 수가 보존되지 않기 때문이다 — 결정을 데우면 포논이 생기고 식히면 사라진다.
입자 수에 제약이 없으면 그 수를 조절하는 라그랑주 승수 μ 가 필요 없고, 자유에너지를 n 에
대해 최소화하면 ∂F/∂n=μ=0 이 된다.
그림 7.5-1. 플랑크 분포. 왼쪽은 점유수 ⟨n⟩ = 1/(e^(ħω/k_BT) − 1)을 k_BT/ħω의 함수로 그린 것으로, k_BT ≪ ħω에서는 e^(−ħω/k_BT)로 얼어붙고 k_BT ≫ ħω에서는 고전값 k_BT/ħω − 1/2에 붙는다. k_BT = ħω인 점에서 ⟨n⟩ = 0.58이다. 오른쪽은 모드 하나의 에너지 (⟨n⟩ + 1/2)ħω — 영점 에너지 ħω/2에서 출발해 등분배 직선 k_BT에 접근한다. 두 선이 갈리는 곳이 k_BT ≈ ħω이고, 열용량이 온도에 따라 변하는 것은 오직 이 갈림 때문이다.직접 작도
영점 에너지 ∑21ℏω 는 온도와 무관하므로 열용량에 기여하지 않아 뺐다. K 에
대한 합은 결정이 크면 적분으로 바꿀 수 있다. 편극 p 의 모드 중 진동수가 ω∼ω+dω
인 것의 수를 Dp(ω)dω 라 하면
U=p∑∫dωDp(ω)eℏω/kBT−1ℏω
이고, x=ℏω/kBT 로 미분하면
CV=∂T∂U=kBp∑∫dωDp(ω)(ex−1)2x2ex
이다. 피적분함수의 무차원 인자 x2ex/(ex−1)2 는 x≪1 에서 1, x≫1 에서
x2e−x→0 인 차단 함수다 — “켜진 모드는 kB 를 내고 꺼진 모드는 0을 낸다”를
매끄럽게 쓴 것이다. 그러므로 열용량 문제의 핵심은 온전히 D(ω) 로 넘어간다. 2·3절이
그것을 세고, 4·5절이 두 가지 근사로 적분을 닫는다.
D(ω) 를 구하려면 먼저 “허용된 K 가 무엇인가”를 알아야 한다. 무한 결정에서는
K 가 연속이지만, 유한 결정에서는 경계 조건이 K 를 이산화한다 — 5.3의 무한
우물(5.3.1무한 우물)이 k=nπ/L 만 허용한 것과 같은 논리다. 결론부터 적으면 파수
하나가 K 공간에서 부피 (2π/L)3 을 차지한다. 이 한 줄이 이 절의 전부이고, 전자의
상태 세기(7.6, 6.5.9차원별 상태밀도)와 완전히 같다.
이다. K=0 은 모든 원자가 정지한 해라 모드가 아니고, K=Nπ/L=π/a 는
sin(sπ)=0 이라 역시 아무도 움직이지 않는다. 남는 것은 N−1 개 — 움직일 수 있는 원자
N−1 개와 같다. 파수 하나가 K 축에서 길이 π/L 을 차지한다.
경계를 고정하는 대신 주기 경계 조건u(s+N)=u(s) 를 걸면(보른–폰 카르만) 해는 진행파
us∝ei(sKa−ωt) 이고 eiNKa=1 에서
K=0,±L2π,±L4π,…,±L(N−2)π,LNπ
이다. −π/a 와 +π/a 는 같은 모드라 한 번만 세고(7.4의 첫 브릴루앙 영역), 합쳐서 정확히
N 개다. 간격은 2π/L 로 두 배지만 K 가 음수까지 뻗어 구간도 두 배라, 모드 수는 같다.
그림 7.5-2. 허용된 파수 세기. 왼쪽 위는 양 끝 고정 — K = π/L 간격으로 (0, π/a) 안에 N − 1개. 왼쪽 아래는 주기 경계 — K = 2π/L 간격으로 (−π/a, π/a] 안에 N개. 어느 쪽이든 원자 N개에 모드 N개다. 오른쪽은 3차원 주기 경계의 K 공간 — 모드 하나가 부피 (2π/L)³의 칸 하나를 차지하고, 반지름 K인 구 안의 모드 수는 구의 부피를 칸의 부피로 나눈 VK³/6π²이다 (편극마다).직접 작도
1차원에서 파수 하나가 길이 2π/L 을 차지하므로(주기 경계, ±K 를 모두 세면)
D(ω)dω=2πL⋅2dK, 즉
D(ω)=πLdωdK=πvgL
이다. 7.4의 단원자 사슬(7.4.2단원자 사슬과 이원자 사슬) ω=ωm∣sin(Ka/2)∣ 을 넣어 보자.
vg=dω/dK=21ωmacos(Ka/2) 이고 cos(Ka/2)=1−ω2/ωm2 이므로
D(ω)=πL⋅ωma2⋅1−ω2/ωm21=π2Nωm2−ω21
이다 (L=Na). 저주파에서는 상수 2N/πωm=L/πv (선형 분산 ω=vK,
v=ωma/2), 띠의 꼭대기 ωm 에서는 발산한다 — 그곳에서 분산 곡선이 평평해져
vg=0 이기 때문이다. 좁은 dω 안에 넓은 dK 구간의 모드가 몰려 들어온다. 이런 점을
반 호브 특이점이라 한다. 적분 가능한 발산(1/)이라 총 모드 수는 유한하다:
∫0ωmDdω=π2Narcsin(1)=N ✓.
그림 7.5-3. 상태밀도의 두 얼굴. 왼쪽은 1차원 단원자 사슬 — 저주파에서 상수 L/πv였다가 띠 꼭대기 ω_m에서 군속도가 0이 되어 발산한다 (반 호브 특이점). 오른쪽은 3차원 디바이 근사 — D ∝ ω²의 포물선을 차단 진동수 ω_D에서 자른 것으로, 아래 넓이가 총 모드 수 3N이다. 점선은 실제 결정의 상태밀도가 어떻게 생겼는지를 정성적으로 그린 것 — 분산 곡선이 평평해지는 진동수마다 봉우리가 서고, 3차원에서는 발산이 아니라 꺾임(kink)으로 나타난다.직접 작도
이다. 등진동수면 위에서 넓이 요소를 군속도로 나누어 적분한 것 — 2절의 “껍질 넓이 × 두께”를
등방적이지 않은 분산에 맞게 일반화한 것이다. 이 식은 실제 결정의 분산 ω(K) 를
(비탄성 중성자 산란으로 재거나 계산해서) 알면 상태밀도를 주고, 전자의 D(E) 에도 글자만 바꿔
그대로 쓴다(7.8).
vg=0 인 곳(분산 곡선의 극대·극소·안장점)에서 피적분함수가 발산하지만, 3차원에서는 그
점이 면 위의 한 점이라 적분은 유한하다 — D(ω) 는 발산 대신 꺾임(도함수의 불연속)을
보인다. 1차원의 발산, 2차원의 로그 발산, 3차원의 꺾임이 반 호브 특이점의 차원별 얼굴이다.
디바이(1912)의 근사는 두 문장이다. ① 모든 K 에서 ω=vK 로 둔다 — 장파장
극한의 선형 분산을 브릴루앙 영역 끝까지 밀어붙인다. ② 대신 총 모드 수는 정확히 맞춘다 —
편극 하나마다 모드가 N 개여야 하므로, K 공간에서 브릴루앙 영역을 같은 부피의 구로
바꾸고 그 반지름 KD 에서 자른다:
그림 7.5-4. 디바이 근사의 기하. 정사각형이 브릴루앙 영역(실제로 있는 모드 N개), 원이 같은 넓이의 디바이 구다. 원 안이지만 영역 밖인 네 활꼴은 없는 모드를 센 자리, 영역 안이지만 원 밖인 네 귀퉁이는 있는 모드를 버린 자리 — 넓이가 같아 총 모드 수는 보존된다. 가운데 작은 원이 저온에서 실제로 켜지는 모드의 범위 K ≲ k_BT/ħv — 경계의 모양이 보이지 않으므로 저온에서 이 근사는 정확하다. 고온에서는 총 모드 수만 보이므로 역시 정확하다. 근사가 틀리는 것은 그 사이뿐이다.직접 작도
이것이 디바이 T3 법칙이다. 실험은 단순한 절연 결정에서 이 법칙을 잘 따르고 — Kittel 의
고체 아르곤 그림(θ=92K)이 그 예다 — T3 이 순수하게 보이려면
T≲θ/50 까지 내려가야 한다. 실리콘이라면 13 K 아래다.
그림 7.5-5. 디바이 열용량 C/3Nk_B를 T/θ의 함수로. 디바이(강조)와 아인슈타인(θ_E = θ)이 모두 고온에서 뒬롱–프티값 1에 붙지만, 저온에서 디바이는 T³ 법칙 점선을 따라 천천히, 아인슈타인은 지수적으로 빠르게 0으로 간다. 300 K에서의 Ge(T/θ = 0.80, C = 0.93), Si(0.47, 0.80), 다이아몬드(0.13, 0.16)가 디바이 곡선 위에 찍혀 있다 — 실리콘의 상온 열용량 20 J/(mol·K)가 25가 아닌 이유가 이 위치다. 다이아몬드의 실측 0.25는 디바이값 0.16보다 크다 — 상온의 유효 디바이 온도가 저온값 2230 K보다 낮은 1,860 K이기 때문이다(4절 의문 참고).직접 작도
그림 7.5-6. 가로축을 (T/θ)³으로 잡으면 T³ 법칙은 원점을 지나는 직선이다 (Kittel의 아르곤 그림과 같은 방법). 디바이 곡선은 기울기 4π⁴/5 ≈ 78의 직선에 붙어 있다가 T/θ ≈ 0.1부터 아래로 처지고, 아인슈타인 곡선은 이 축에서 바닥에 붙어 있다. 오른쪽 표 — T/θ = 0.1에서 T³ 법칙과 디바이의 차이는 3%, 0.2에서는 70%다. 직선에서 벗어나는 자리가 긴 파장 음향 모드만 켜져 있다는 가정이 깨지는 온도다.직접 작도
(Kittel 5장의 표, 저온 열용량에서 정한 값.) θ=(ℏv/kB)(6π2N/V)1/3 을 읽으면
경향이 보인다 — 가볍고 단단할수록θ 가 높다. v=C11/ρ 이므로 원자가
가벼우면(ρ 작음) 빠르고, 결합이 세면(C11 큼) 빠르다. 다이아몬드는 둘 다라 2230 K, 납은
둘 다 아니라 105 K 다.
실리콘으로 셈을 맞춰 본다. 원자 밀도 N/V=5.0×1022cm−3 에서
KD=(6π2N/V)1/3=1.44×1010m−1 — 브릴루앙 영역의 X점
2π/a=1.16×1010m−1 보다 조금 크다. 디바이 평균 음속 6,400 m/s 를 곱하면
θ=ℏvKD/kB≈700K. 열용량으로 정한 645 K 와 10% 안에서 맞는다 —
실제 분산이 영역 경계 근처에서 선형보다 낮게 휘어(7.4의 sin 곡선) 고주파 모드가 디바이
모형보다 조금 더 많기 때문이다.
θE=ℏω0/kB 를 아인슈타인 온도라 한다. 고온(T≫θE)에서 CV→3NkB
— 뒬롱–프티는 여기서도 나온다. 저온에서는
CV≈3NkB(TθE)2e−θE/T
로 지수적으로 죽는다. 실험의 T3 보다 훨씬 빠르다 — 그림 7.5-6의 바닥에 붙은 곡선이
그것이다. 이유는 분명하다. 아인슈타인 결정에는 ω0 보다 낮은 모드가 없어서, kBT 가
ℏω0 아래로 내려가면 켜진 모드가 하나도 없다. 실제 결정은 ω→0 의 긴
파장 음향 모드를 언제나 갖고 있고, 그것들이 저온 열용량을 T3 으로 받친다.
그럼에도 이 모형은 역사적 사건이었다 — 고전 등분배가 왜 저온에서 실패하는지를 양자화된
진동자 하나로 설명했고, 플랑크의 양자가 복사만이 아니라 물질의 진동에도 적용됨을 처음
보였다.
아인슈타인 모형은 죽은 모형이 아니다. 광학 포논(7.4.3음향·광학 포논)의 분산은 브릴루앙
영역 전체에서 거의 평평하다 — 7.4의 이원자 사슬에서 광학 가지가 K=0 과 π/a 사이에
ω 를 조금밖에 안 바꾼 것을 떠올린다. 평평한 가지는 상태밀도가 좁은 봉우리이고, 그것을
델타 함수로 두는 것이 바로 아인슈타인 근사다. 그래서 다원자 결정의 표준 모형은
이다. 실리콘(p=2)의 광학 포논은 라만 산란(7.11.8라만 효과와 브릴루앙 산란)으로 재면 519cm−1,
즉 ℏω0=64.3meV, θE=746K 다. 상온에서 θE/T=2.5
이므로 광학 모드의 열용량은 뒬롱–프티값의 61% — 아직 절반 남짓 켜져 있다. 100 K 에서는 3% 다.
7.4의 조화 근사(7.4.1조화 근사)는 퍼텐셜을 변위의 2차까지만 남긴 것이다. 그 결과로 따라오는
성질들을 나열하면, 하나같이 실제 결정과 어긋난다:
두 격자파는 서로 상호작용하지 않는다 — 한 파가 다른 파를 산란하지 않는다.
한 파는 감쇠하지 않고 시간이 지나도 모양을 바꾸지 않는다.
열팽창이 없다.
단열 탄성 상수와 등온 탄성 상수가 같다.
탄성 상수가 압력과 온도에 무관하다.
열용량이 고온에서 상수 3NkB 가 된다 — 실제로는 T≫θ 에서 조금씩 더 오른다.
실제 결정은 이 여섯을 전부 위반하고, 위반의 크기가 곧 퍼텐셜의 3차·4차 항, 곧
비조화 항의 크기다. 세 원자의 변위가 곱해진 3차 항은 “포논 하나가 둘로 갈라지거나 둘이
하나로 합쳐지는” 3-포논 과정을 만들고(7·8절의 열저항), 홀수 차수 항이 우물을 비대칭하게
만들어 열팽창을 낳는다. 이 절은 열팽창을, 다음 절들은 열저항을 다룬다.
로 쓴다. cx2 이 조화 항, −gx3 이 비대칭 항(밀 때보다 당길 때 퍼텐셜이 완만하다 — 원자
사이의 반발은 가파르고 인력은 완만하므로, 7.3의 결합 곡선이 이 모양이다), −fx4 는 큰 진폭에서
진동을 무르게 하는 항이다. 고전 통계로 평균 변위를 구한다 — 볼츠만 인자로 무게를 준 평균:
⟨x⟩=∫−∞∞e−U(x)/kBTdx∫−∞∞xe−U(x)/kBTdx
비조화 항이 작다고 보고 e(gx3+fx4)/kBT≈1+(gx3+fx4)/kBT 로 전개하면 분자는
(β=1/kBT)
이다. 홀함수 x, x5 의 적분은 0으로 사라지고 x4 항만 남는다 — 가우스 적분의 모멘트는
감마 함수(1.5.9감마·베타 함수와 스털링 근사)로 ∫x2ne−ax2dx=Γ(n+21)a−n−1/2 이다.
분모는 첫 근사에서 π/βc 이므로
⟨x⟩=4c23gkBT
평균 변위가 온도에 비례한다. 선팽창률은 α=a1dTd⟨x⟩=4c2a3gkB
— 온도와 무관한 상수이고, 상온 근처에서 열팽창이 선형인 이유다. g=0 이면 ⟨x⟩=0:
조화 결정은 어떤 온도에서도 늘어나지 않는다.f 는 이 차수에 나오지 않는다 — 짝수 항은
우물을 대칭으로 넓혀 진동수만 바꾸고 평균은 안 옮긴다.
그림 7.5-7. 비조화 우물과 열팽창. 점선의 조화 포물선 cx²는 좌우 대칭이고, 강조된 cx² − gx³은 왼쪽(압축) 벽이 가파르고 오른쪽(인장) 벽이 완만하다. 세 온도 k_BT₁ < k_BT₂ < k_BT₃에 해당하는 수평선의 양 끝이 고전적 반환점이고 그 중점(●)이 시간 평균 위치다. 진폭이 커질수록 중점이 오른쪽으로 밀려 ⟨x⟩ ∝ T의 자취를 그린다 — 조화 포물선이라면 어떤 진폭에서도 중점은 0이다. 오른쪽 — 고전 평균 ⟨x⟩ = 3g k_BT/4c²과 팽창률 α ∝ g/c².직접 작도
이 표가 반도체에서 이 절이 쓰이는 자리다. 서로 다른 α 를 가진 두 층을 고온에서 붙이고
식히면, 온도 차 ΔT 에 대해 변형 불일치 ΔαΔT 가 생기고 박막에는
열응력
σf=1−νfEf(αs−αf)ΔT
가 걸린다 (9.11). 1000 °C 에서 자란 열산화막은 식으면서 실리콘보다 덜 줄어 압축 응력 약
300 MPa 를 받고, 알루미늄 배선은 실리콘보다 열 배 더 줄어 인장 응력을 받는다 — 힐록·보이드·
응력 유기 이동(9.12)의 출발점이다. 웨이퍼 휨(Stoney 식, 19부)은 이 응력의 적분이고, 패키징에서
칩(2.6)과 유기 기판(15)의 불일치는 솔더 범프의 열 피로를 정한다(23부). 반대로 이것을 이용하기도
한다 — 채널에 의도적으로 응력을 걸어 이동도를 올리는 응력 공학(14부)은 격자 불일치를 쓰지만,
공정 온도에서 식을 때의 열팽창 불일치가 그 위에 더해진다.
온도 기울기가 있는 고체에서 에너지 흐름 밀도(단위 넓이·단위 시간당 에너지)는
기울기에 비례한다(3.7.3열전도 법칙과 열전도도):
jU=−κdxdT
κ 가 열전도도다. 이 식이 “비례”인 것 자체가 물리적 내용이다 — 에너지가 한쪽 끝에서
다른 끝으로 곧장 날아가지 않고, 짧은 거리를 가다 부딪히고 다시 가는 확산 과정임을 말한다.
포논이 아무것에도 부딪히지 않는다면 에너지는 음속으로 통과하고, 열류는 기울기가 아니라 양 끝의
온도 차에만 의존할 것이다. 열전도도라는 양이 있으려면 포논이 부딪혀야 한다. 무엇에 부딪히는가
— 이것이 7~9절의 질문이고, 답은 세 가지다: 다른 포논(8절), 결함, 경계(9절).
포논을 기체로 본다. 6.6의 기체 운동론(6.6.11기체 운동론과 수송 과정)을 그대로 따른다. 단위 부피당
포논 n 개가 속도 v 로 제멋대로 날다가 평균 ℓ 만큼 가서 충돌한다고 하자. x 방향
온도 기울기가 있을 때, 면 x 를 +x 로 지나는 포논은 평균 ℓx=vxτ 만큼 뒤, 즉 온도가
T−ℓxdT/dx 인 곳에서 마지막으로 충돌했으므로 그만큼 다른 에너지를 갖고 온다. 포논
하나가 온도 ΔT 차이에 대해 나르는 에너지를 cΔT (c 는 포논 하나의 열용량)
라 하면 알짜 흐름은
조화 결정에서 격자파는 서로 상호작용하지 않으므로(6절의 목록) 포논은 다른 포논에 부딪히지
않는다. 완전한 조화 결정의 ℓ 은 시료의 크기이고 κ 는 크기에 비례해 무한히
커진다 — 열저항은 비조화 항이 만든다. 3차 항 ∝u1u2u3 이 만드는 기본 과정은
3-포논 과정이다: 포논 둘이 만나 하나가 되거나(합침), 하나가 둘로 갈라진다(쪼개짐).
에너지와 결정 운동량이 보존된다:
ω1+ω2=ω3,K1+K2=K3+G
G 는 역격자 벡터이고, 결정 운동량은 G 를 더한 것까지만 정해진다는 7.4의
결론(7.4.5포논의 양자화와 운동량)이 여기 들어 있다. G=0 인 충돌을 정상 과정(N 과정),
G=0 인 충돌을 움클랍 과정(U 과정)이라 부른다.
여기서 미묘한 사실이 하나 있다. 정상 과정만 있는 결정의 열저항도 0이다. 온도 기울기가
만든 포논 흐름을 생각하자. 열이 +x 로 흐른다는 것은 +x 쪽 K 를 가진 포논이
−x 쪽보다 많다는 것, 곧 총 결정 운동량
J=K,p∑nK,pℏK=0
이라는 것이다. 정상 과정은 K1+K2=K3 이므로 충돌 전후로 J 를
바꾸지 않는다. 포논끼리 아무리 자주 부딪혀도 J 는 그대로이고, 표류하는 분포는
표류하는 채로 남는다 — 열류가 온도 기울기 없이도 계속 흐른다. Kittel 의 비유: 벽에 마찰이
없는 관 안의 기체를 한쪽에서 밀면, 기체 분자끼리 아무리 충돌해도 분자들의 총 운동량은
줄지 않으므로 기체는 멈추지 않는다. 열저항이 있으려면 J 를 파괴하는 충돌이
필요하고, 그것이 8절의 움클랍과 9절의 결함·경계 산란이다.
그림 7.5-8. 정상 과정은 표류를 되돌리지 못한다. 왼쪽 — 열평형의 포논 점유수는 K = 0에 대칭이라 총 결정 운동량 ΣK = 0, 열류 없음. 오른쪽 — 온도 기울기가 분포 전체를 +K 쪽으로 민 표류 분포(점선이 평형). ΣK ≠ 0이므로 열류가 흐르는데, 정상 과정 K₁ + K₂ = K₃는 ΣK를 보존하므로 아무리 자주 일어나도 이 표류를 지우지 못한다. 표류를 지우려면 ΣK를 바꾸는 충돌 — 움클랍(§8) 또는 결함·경계 산란(§9) — 이 있어야 한다.직접 작도
K1+K2=K3+G 에서 G=0 인 경우를 본다. 두 포논
K1, K2 가 둘 다 +x 쪽을 향하고 크기가 각각 브릴루앙 영역의 절반쯤이면,
합 K1+K2 는 영역 밖에 떨어진다. 그런데 7.4에서 본 대로 영역 밖의 파수는
물리적으로 새로운 모드가 아니다 — G 를 빼서 영역 안으로 접어 넣은 K3 이
같은 모드다. 접어 넣은 K3 은 −x 쪽을 향한다.+x 로 가던 두 포논이 합쳐져
−x 로 가는 하나가 됐다 — 에너지 흐름의 방향이 뒤집혔다. 총 결정 운동량은 ℏG
만큼 바뀌었고(그 반동은 결정 전체가 받는다), 7절의 J 가 파괴됐다. 이것이
움클랍 과정(Umklapp — “접어 넘김”, 파이얼스 1929)이고, 순수한 결정의 열저항은 전부 여기서
온다.
그림 7.5-9. 정상 과정과 움클랍 과정. 정사각형이 첫 브릴루앙 영역이다. 왼쪽 — 정상 과정: K₁ + K₂ = K₃가 영역 안에 놓이고 방향이 그대로다. 오른쪽 — 움클랍: K₁ + K₂가 영역 밖으로 나가고, 역격자 벡터 G를 빼서 접어 넣은 K₃가 반대쪽을 향한다. 에너지 흐름이 뒤집히고 총 결정 운동량이 G만큼 바뀐다. 이런 일이 일어나려면 K₁·K₂가 영역 절반 크기 이상이어야 하므로, 움클랍에 참여하는 포논의 에너지는 대략 k_Bθ/2 이상이다.직접 작도
움클랍이 일어나려면 K1+K2 가 영역 밖으로 나가야 하므로 두 포논의 파수가
각각 영역 절반 크기 이상, 대략 ∣K∣≳21G, 에너지로는
ℏω≳21kBθ 여야 한다. 그런 포논의 수는 저온에서 플랑크 분포의
꼬리, 곧 e−θ/2T 에 비례한다. 움클랍 충돌률이 그 수에 비례하므로
ℓU1∝e−θ/2T(T≪θ)
— 온도를 내리면 움클랍이 지수적으로 얼어붙고ℓ 이 지수적으로 자란다. 열전도도가
저온으로 갈수록 폭발적으로 커지는 것이 이 때문이고, 그 성장을 멈추는 것은 결국 시료의
크기다(9절).
고온(T≳θ)에서는 모든 모드가 켜져 있어 문턱이 무의미하고, 포논의 수 자체가
⟨n⟩≈kBT/ℏω∝T 로 는다. 산란 상대가 T 에 비례해 많아지니
충돌률 ∝T, 즉
ℓ∝T1,κ∝T1(T≳θ)
C 는 이 온도에서 상수(뒬롱–프티)이므로 κ 의 온도 의존이 ℓ 의 것과 같다. 실리콘의
열전도도가 300 K 의 148 에서 400 K 의 99, 500 K 의 76 W/(m·K) 로 떨어지는 것이 대략 1/T
보다 조금 가파른 정도다 — 소자 온도가 100 °C 오르면 실리콘 기판의 열저항이 절반 가까이 오른다.
κ=31Cvℓ 을 거꾸로 써서 실측 κ 에서 ℓ 을 뽑으면 (Kittel 5장의 표,
v=5×103m/s 로 계산):
결정
T
κ (W/(m·K))
ℓ
석영 (광축 방향)
0 °C
13
4 nm
−190 °C
50
54 nm
NaCl
0 °C
7
2.3 nm
−190 °C
27
10 nm
두 가지가 보인다. 상온 근처의 ℓ 은 원자 간격의 열 배 정도에 불과하고, −190 °C 로
내리면 열 배 자란다 — e−θ/2T 의 얼어붙음이다. 실리콘의 43 nm(7절)는 이들보다 열
배 크다: θ 가 높아 상온의 움클랍이 덜 활발한 것과 결정이 단순한 것(원시 세포당 원자 2개 —
광학 가지가 적어 3-포논 과정의 경로가 적다)이 이유다.
포논이 부딪힐 수 있는 것은 다른 포논만이 아니다. 시료의 표면·경계, 동위원소(질량이
다른 같은 원소), 불순물·공공·전위 같은 격자 결함, 그리고 결정이 아예 아닌 비정질
구조가 모두 포논을 산란한다. 서로 독립인 산란 기구는 충돌률이 더해지므로 (마티센 법칙 —
11부에서 전자 이동도에 쓰는 것과 같은 규칙)
ℓ1=ℓU1+ℓ경계1+ℓ동위원소1+ℓ결함1+⋯
이고, 가장 짧은 ℓ 이 이긴다. 온도마다 이기는 항이 달라 열전도도 곡선에 세 영역이
생긴다.
그림 7.5-10. 열전도도의 온도 의존 — 정성적 모형(양대수 눈금, 임의 단위). ① 순수하고 큰 결정: 저온에서 ℓ이 시료 크기 d로 고정되어 κ ∝ C ∝ T³으로 오르고, θ/20 근처에서 봉우리를 만든 뒤, 움클랍이 켜지며 e^(θ/2T) → 1/T로 떨어진다. ② 같은 시료에 동위원소·점결함 산란을 넣으면 봉우리만 깎이고 양쪽 가지는 거의 그대로다 — 레일리 산란 ∝ ω⁴가 봉우리 근처의 고주파 포논에만 예민하기 때문이다. ③ 시료 크기를 1/10로 줄이면 저온 가지 전체가 1/10로 내려간다. 실리콘의 봉우리는 약 25 K에서 상온값의 수십 배다.직접 작도
저온에서 움클랍이 얼어붙으면(ℓU→∞) 포논은 시료의 표면에 부딪힐 때까지 곧장
간다. 표면에서 무작위 방향으로 되튀면(확산 반사) ℓ≈d (시료의 지름·두께)이고
κ=31Cvd∝T3d(T≪θ)
— 열전도도가 시료의 크기에 비례하고 온도 의존은 열용량의 T3 그대로다 (드 하스·비어마스
1938, 카시미르). 이것을 크기 효과라 한다. 순수 결정의 κ 는 원리적으로 재료 상수가
아니라 기하의 함수다.
이 논리는 저온에 국한되지 않는다. 시료의 한 치수가 ℓ 보다 작아지면 그 치수가 ℓ 을
대신한다 — 상온에서도. 실리콘의 ℓ≈43nm 이므로(그리고 열을 실제로 나르는
포논의 ℓ 은 훨씬 길므로) 두께 d 의 실리콘 박막·나노선·핀의 열전도도는 대략
κ(d)≈1+ℓ/dκ벌크
로 떨어진다 (전자의 푹스–존트하이머 크기 효과의 포논판 — 정확한 계산은 스펙트럼 ℓ(ω)
를 적분해야 한다, 3.7.13나노 스케일 전도와 열예산). SOI 의 상부 실리콘(수십 nm)은 벌크의 1/31/7,
FinFET 핀·GAA 나노시트(510 nm)는 1/10 아래로 내려간다. 채널에서 난 열이 빠져나갈 길이
좁아지는 것 — 자기 발열이 3차원 트랜지스터에서 평면 소자보다 심한 첫 번째 이유다 (14부).
질량 M 인 격자에 질량 M+ΔM 인 원자가 하나 섞이면 그 자리에서 파동이 산란된다.
파장보다 훨씬 작은 산란체이므로 레일리 산란이다:
ℓ점결함1∝(MΔM)2ω4
ω4 — 고주파 포논에 극단적으로 예민하고 저주파 포논은 거의 못 본다. 그래서 점결함
산란은 그림 7.5-10의 봉우리 근처(고주파 포논이 열을 나르기 시작하는 온도)에서만 이기고,
저온 가지(경계)와 고온 가지(움클랍)는 건드리지 못한다.
동위원소는 어느 결정에나 있는 점결함이다. 자연 게르마늄은 다섯 동위원소의 혼합이고(⁷⁰·⁷²·⁷³·⁷⁴·⁷⁶),
⁷⁴Ge 를 96% 로 농축한 결정은 자연 결정보다 봉우리에서 열전도도가 세 배 높다(Kittel 5장의 그림,
지발·헐 1958). 실리콘은 ²⁸Si 가 92% 라 처음부터 순한 편이지만, ²⁸Si 로 농축하면 상온에서
10% 남짓, 봉우리에서는 몇 배 오른다. 다이아몬드는 ¹³C 1.1% 를 없애면 상온 열전도도가
50% 가까이 오른다 — 상온이 다이아몬드에게는 봉우리 쪽 온도이기 때문이다(8절).
같은 논리가 도펀트에 적용된다. 실리콘에 인·붕소를 1020cm−3 넣으면
질량 차이와 결합 변화, 그리고 자유 캐리어에 의한 산란이 더해져 상온 열전도도가 절반 근처로
떨어진다. 소스·드레인과 폴리실리콘 게이트의 열전도도는 벌크 실리콘의 값이 아니다.
합금은 극단이다 — Si1−xGex 는 모든 격자점이 점결함이라 x≈0.2 에서
κ≈10W/(m⋅K), 실리콘의 1/15 이다. 열전 소자(17부)는 이것을 이용하고,
SiGe 채널·소스/드레인(14부)은 이것을 감수한다.
유리처럼 주기가 없는 고체에서는 결정 운동량이 정의되지 않고 포논이라는 개념 자체가 고주파에서
무너진다(7.15.6저에너지 여기와 열전도). 실측 κ 에서 ℓ 을 뽑으면 원자 간격 정도(수 Å)가
나온다 — 가능한 최솟값이다. 그러면 κ=31Cvℓ 에서 ℓ 이 상수이므로
κ 는 C 를 따라 온도가 오르면 함께 오른다 — 결정과 반대다. 열산화막 SiO₂ 의
1.4 W/(m·K) 와 석영 결정의 10 W/(m·K), 실리콘의 148 이 이렇게 갈린다.
반도체에서 이것이 뜻하는 바는 크다. SOI 의 매몰 산화막(BOX)은 실리콘보다 100배 나쁜 열
전도체라 트랜지스터 아래의 열의 벽이고, 배선 사이의 층간 절연막(ILD, 특히 low-k 다공성
막은 0.3 W/(m·K) 아래)은 배선의 줄열을 가둔다. 3D NAND 의 수백 층 적층과 HBM 의 다이 적층
(15부)에서 열이 빠져나가는 길은 산화막을 가로지르는 길이고, 그 열저항이 적층 수를 제한한다.